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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數(shù)) 1點(diǎn)1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外至近紅外) 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時(shí)間:2025-03-27型號(hào):OPTM SERIES訪問量:2179
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